T/CIE 144-2022 半导体器件可靠性强化试验方法
本文件规定了半导体器件可靠性强化试验方法，并规定了半导体器件强化试验的一般步骤、相关要求、方法及参数监测等。
本文件适用于半导体分立器件、集成电路、微波器件的可靠性强化试验指导。
英文名称：
Reliability enhancement test of semiconductor devices
中标分类：
电子元器件与信息技术 - 电子元器件与信息技术综合 - L05可靠性和可维护性
ICS分类：
电子学 - 31.020电子元件综合
发布部门：
中国电子学会
发布日期：
2022-12-31
实施日期：
2023-01-31
提出单位：
中国电子学会可靠性分会
归口单位：
中国电子学会可靠性分会
起草单位：
工业和信息化部电子第五研究所、航空工业第一飞机设计研究院
起草人：
杨少华、颜佳辉、薛海红、牛皓、刘昌、王铁羊、吕宏峰、来萍、许少辉、赖灿雄、陈希宇、廖文渊、柳月波
页数：
20页
出版社：
中国标准出版社
