本文件界定了存储设备的容量和性能测试的术语和定义,规定了存储设备的容量和性能测试的测试环境、数据负载、技术要求及测试方法。
本文件适用于物理存储设备[如智能盘(框)、存储阵列等]和抽象存储设备(如逻辑卷等)的存储容量和性能的测试。
英文名称:
Technical specification for test method of storage device capacity and performance
中标分类:
电子元器件与信息技术 - 计算机 - L63计算机外围设备
ICS分类:
信息技术、办公机械设备 - 数据存储设备 - 35.220.01数据存储设备综合
发布部门:
中国计量测试学会
发布日期:
2024-12-24
实施日期:
2025-01-24
提出单位:
中国计量测试学会
归口单位:
中国计量测试学会
起草单位:
中国计量科学研究院、华为技术有限公司、北京忆恒创源科技股份有限公司、京东科技信息技术有限公司、北京火山引擎科技有限公司、深圳大普微电子科技有限公司、北京信而泰科技股份有限公司、中国质量认证中心、北京数字科智技术有限公司
起草人:
武彤、沈庆飞、赵像楠、陈国义、蒲贵友、李龙壮、曹雪林、马国忠、高慧萍、陈凯、李震
出版社:
中国标准出版社