GB/T 43883-2024 微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法

本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（TEM/STEM)技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。
本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下，且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行，其他晶体材料可参照执行。
本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。
注1:可测定的最小颗粒尺寸取决于所用TEM/STEM设备的分辨率和采用的实验技术。
注2:待测定的第二相颗粒尺寸通常在5 nm~40 nm范围。
注3:TEM图像上若出现第二相颗粒重叠的情况，将增大颗粒计数的不确定度。
英文名称：  Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for determining the number density of nanoparticles in a metal
中标分类：  仪器、仪表 - 光学仪器 - N33电子光学与其他物理光学仪器
ICS分类：  化工技术 - 分析化学 - 71.040.99有关化学分析方
发布部门：  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：  2024-04-25
实施日期：  2024-11-01
提出单位：  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
归口单位：  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
起草单位：  中国航发北京航空材料研究院、北京科技大学、牛津仪器科技(上海)有限公司
起草人：  娄艳芝 柳得橹 徐宁安
页数：  32页
出版社：  中国标准出版社