GB/T 33714-2017 纳米技术 纳米颗粒尺寸测量 原子力显微术
本标准规定了用原子力显微术(Atomic force microscopy，简称AFM)测量纳米颗粒高度来表征纳米颗粒尺寸的方法。?本标准适用于分散在平整衬底表面上的纳米颗粒测量。
英文名称：
Nanotechnology—Test method for size of nanoparticles—Atomic force microscopy
中标分类：
仪器、仪表 - 仪器、仪表综合 - N04基础标准与通用方法
ICS分类：
试验 - 19.020试验条件和规程综合
发布部门：
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期：
2017-05-12
实施日期：
2017-12-01
复审日期：
2023-12-28
归口单位：
全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)
起草单位：
国家纳米科学中心、纳米技术及应用国家工程研究中心、北京粉体技术协会
起草人：
朱晓阳、杨延莲、高洁、何丹农、朱君、周素红、张迎
页数：
24页
出版社：
中国标准出版社
