本标准适用于直接测量或直接探测由发射光子辐射的核素造成表面污染的便携式和移动式污染测量仪和监测仪,它至少包括:
———探测装置(计数管、闪烁探测器或半导体探测器等),它们可以采用刚性连接或电缆连接或者组成一单独的装置;
———测量装置。
本标准适用于:
———表面污染光子测量仪;
———表面污染光子监测仪。
本标准适用于测量发射能量超过5keV 光子的核素造成污染的探测装置。本标准特别用于评价那
些证明物体未受到发射光子核素表面污染的装置性能。
本标准也适用于那些有特殊用途的仪器和为使用者提供有限光谱信息而特别设计的仪器。
注:这些探测装置可能用于测量同时产生α和β辐射的核素产生的光子辐射,在这种情况下,可根据污染类型屏蔽
α和β辐射。严格地讲,如果进行了屏蔽,污染是发生在被监测物体的附近而不是在其表面。
本标准的目的是规定标准要求和给出一些适用方法的实例,还规定了光子污染测量仪和监测仪的
一般特性、一般试验条件、辐射特性、电气安全、环境特性以及合格证书要求。
英文名称:
Radiation protection instrumentation—Portable photon contamination meters and monitors
中标分类:
能源、核技术 - 核仪器与核探测器 - F84辐射防护仪器
ICS分类:
环保、保健与安全 - 13.280辐射防护
采标情况:
IEC 62363:2008 IDT
发布部门:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:
2013-10-10
实施日期:
2014-02-01
提出单位:
国防科技工业局
归口单位:
全国核仪器仪表标准化技术委员会(SAC/TC 30)
主管部门:
全国核仪器仪表标准化技术委员会(SAC/TC 30)
起草单位:
西安核仪器厂。
起草人:
孙力平、杨妮莹。
页数:
28页
出版社:
中国标准出版社
出版日期:
2014-02-01