SJ 2658.8-1986 半导体红外发光二极管测试方法 法向辐射率的测试方法
标准状态：
已作废
替代情况：
被SJ/T 2658.8-2015代替
中标分类：
电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - L53半导体发光器件
实施日期：
1986-10-01
作废日期：
2016-04-01
页数：
5页
