GB/T 8759-1988 化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法
英文名称：
Compound semiconductive single crystals--Determination of crzystallographic orientation--X-ray diffraction method
标准状态：
已作废
替代情况：
被GB/T 1555-1997代替
中标分类：
冶金 - 金属理化性能试验方法 - H21金属物理性能试验方法
采标情况：
ASTM T26-1984 MOD
实施日期：
1989-07-01
作废日期：
1998-08-01
